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品牌 | OLYMPUS/奧林巴斯 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,電子,冶金,煙草,電氣 |
奧林巴斯偏光顯微鏡BX51-P
UIS2物鏡觀察到的鮮明影像
能夠實現小光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產品中選擇所需產品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發的熒光觀察的通用物鏡,能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。
*EF值:平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較,EF值越高光學失真越少,表明偏振光特性越好。
觀察影像實例
石英閃長巖中的斜長石帶狀結構
液晶MBBA(甲氧基的氨基聯苯丁基苯胺)
UPLFLN-P系列產品
UPLFLN-P系列產品規格 | ||
產品名稱 | 數值孔徑 (N.A.) | 工作距離 (W.D.) |
UPLFLN4XP | 0.13 | 17.0mm |
UPLFLN10XP | 0.3 | 10.0mm |
UPLFLN20XP | 0.5 | 2.1mm |
UPLFLN40XP | 0.75 | 0.51mm |
UPLFLN100XOP | 1.3 | 0.2mm |
ACHN-P系列產品
ACHN-P系列產品規格 | ||
產品名稱 | 數值孔徑 (N.A.) | 工作距離 (W.D.) |
ACHN10xP | 0.25 | 6.0mm |
ACHN20xP | 0.40 | 3.0mm |
ACHN40xP | 0.65 | 0.45mm |
ACHN100xOP | 1.25 | 0.13mm |
旋轉載物臺
復式機械載物臺
各種補償板的延遲測量范圍
全面改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設計,提高了偏振光性能,實現了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。
*EF值:平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較,EF值越高光學失真越少,表明偏振光特性越好。
各種補償板的延遲測量范圍 | ||
補償板 | 測量范圍 | 主要用途 |
U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 較大的延遲測量(R*>3λ)。(結晶、高分子、纖維、光彈性失真等) |
U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延遲測量(結晶、高分子、纖維、生物體組織等) |
U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延遲測量(結晶、生物體組織等)對比度增強(生物體組織等) |
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延遲測量(結晶、生物體組織等) 對比度增強(生物體組織等 |
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延遲的近似測量(結晶、高分子等) |
*R表示延遲。
為提高測量精度,建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。(U-CWE2除外)
錐光鏡/正像鏡觀察單元
簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡,并且能夠對焦錐光鏡影像。此外,采用了伯特蘭透鏡,即使是樣本的微小范圍,也能觀察到逼真的錐光鏡影像。
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